表面分析：SIMS

二次イオン質量分析法の基礎と応用


【著者名　】D.ブリッグス & M.P.シーア編　志水隆一・二瓶好正監訳

【シリーズ】

【出版社　】アグネ承風社


【発行年度】2003年1版1刷　 【冊数】1　 【頁数】429　 【判型・装丁】A5ペーパ

【現品状態】
カバー擦れ・傷有、本文概ね良

【ISBN】4900508101

￥8,000 税込

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